Realizar mediciones en campo cercano: Explicación del procedimiento y algunas dudas.

Lo explicado en el post anterior era suficiente para subs sellados. Ahora viene la parte peliguda: medir un sub bass-reflex.

Todo lo explicado en el primer post sigue siendo válido aquí, pero habría que hacer algunas cosas a mayores, básicamente repetir el procedimiento pero midiendo el sonido que sale por el puerto réflex. Para ello:

1. Se coloca la punta del micro a ras de la superficie del subwoofer y apuntando justo al centro del puerto.

2. Se hace el barrido

3. Se combinan los resultados de driver y puerto, de manera ponderada de la siguiente manera:

NF_TOTAL_db = NF_driver_db + [NF_puerto_db * raizcuadrada (S_puerto / S_driver)]

donde S_puerto y S_driver se obtendrían de la tabla del post anterior.

4. Se escala a campo lejano el NF_TOTAL_db con la misma fórmula del primer post del hilo


Pues bien, aquí mis dudas son:

- ¿se puede multiplicar en REW una gráfica por un valor constante, para hacer la ponderación "raizcuadrada (S_puerto / S_driver)" _?

EDITO: Sí se puede, no multiplicar, pero sí restarle los dBs equivalentes a toda la gráfica mediante un offset. En el cuadro de controles (donde se aplica el suavizado)

- ¿cómo se suman dos gráficas en REW? No vale la opción de "hacer media" que aparece cuando se muestran varias gráficas.

EDITO: En el mismo cuadro de controles están las opciones para realizar operaciones entre las curvas obtenidas.

En el PDF indican utilizar el RnD Analysis Software, pero ni lo encuentro ni me apetece ponerme con un programa nuevo. Así que si alguien sabe si es posible hacer eso con el REW me haría un gran favor

Saludos.

Reservado para ilustrar con alguna gráfica